产品简介:英国abi_SWA512集成电路测试仪具备二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试 SWA512内图1 512通道 器件测试图例: SWA512内图2 集成电路测试截图: SWA512内图3 SWA512内图4 可以放大观看单个管脚PIN 测试通道: 二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路 二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路 三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路 设备可以64通道为步进可扩充到2048组测试通道 英国abi_SWA512集成电路测试仪功能用途: 1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测; 2)可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试; 3)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件; 4)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析; 5)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析; 6)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚; 7)测试安全可靠,全面解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题; 8)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测; 9)专业操作管理平台:可根据需求编辑测试流程程序,完成自定义化测试,软件管理平台兼容其他厂商设备。测试流程的制定贯穿整个测试过程,使集成电路、电路测试的过程形成标准的测试流程(维修流程、生产流程)。保证了测试工艺的一致性,排除人为因素的干扰。使测试简单、*、标准化。 英国abi_SWA512集成电路测试仪技术规格: 二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路 二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路 三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路 设备可以64通道为步进可扩充到2048组测试通道 实时探笔对比测试通道:4路 同步脉冲信号:4路 测试电压范围:2 V ~ 50 Vp-p; 显示图形模式:V-I、V-T、V-I-F、V-T-F; 信号电流范围: 1 μA to 150 mA 测试阻抗范围 : 100Ω ~ 1MΩ; 三维立体V-I-F测量方式:扫频; 同步脉冲输出模式:单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲; 同步信号振幅:可调式由 +10 V ~- 10V; 英国abi_SWA512集成电路测试仪主要优势: 1)提供软件开发平台,兼容其他厂商测试设备; 2)特有的V-T模式可测量器件的开关时间特性(配合同步脉冲);可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试。可测试三段期间开关时间特性。 3)动态阻抗分析功能,可以对三维图形进行参数的测量; 4)变频或扫频三维立体V-I-F测量方式,三维立体显示器件的端口特性曲线,可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或集成电路。 5)非加电条件下静态诊断集成电路, 不必外加电源即可进行测试。测试更安全:矩阵式扫频测试,脉冲输出进行的动态V/T测试。 北京金三航科技发展有限公司(英国ABI技术服务中心)提供: 集成电路测试仪,集成电路筛选测试仪,元器件筛选测试仪,元器件检测仪,三维立体动态阻抗测试仪的使用技术培训服务,测试程序开发编译服务。