供应ICT-33C+集成电路测试仪

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产品简介 
 
器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判别其逻辑功能好坏。 
器件型号识别:当不知被测器件的型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。 
器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。 
器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致,引脚排列一致的器件型号。 
内部RAM缓冲区修改:仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。 
微机通讯:仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。 
ROM器件读入:仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。 
ROM器件写入:仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。

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适用范围 
 
维修各类电子产品,判断其集成电路故障。 
破译被抹去型号集成电路的真实型号。 
烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。 
开发各类智能电子产品,调试程序。 
检验新购器件的质量。
 
可测器件种类 
 
TTL74、54系列。 
TTL75、55系列。 
CMOS40、45、14系列。 
单片机系列。 
EPROM、EEPROM、RAM、FLASHROM系列。 
光耦合器,数码管系列。 
常用微机外围电路系列。 
其它常用电路及用户提供系列。 
运算放大器系列(单运放、双运放、四运放)。 
三端稳压器系列(78XX,79XX,317,337)。

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